近日,來自美國的華裔科學家在著名國際期刊cell發表了他們的最新研究成果。他們通過實驗發現，酵母端粒酶早期失活會導致細胞出現短暫的DNA損傷應答，這一過程會加速酵母母細胞衰老，並且ETI導致的加速衰老過程發生在端粒縮短誘導的細胞衰老之前。
研究人員指出，端粒酶對於長期維持和保護端粒具有重要作用。他們利用單個出芽酵母母細胞進行分析，發現在端粒酶失活早期(ETI)，酵母母細胞出現短暫的DNA損傷應答，並隨機改變細胞週期的動態變化，加速母細胞衰老。
ETI母細胞的加速衰老並不能通過ROS增加，sir蛋白變化或者端粒的去保護來解釋，ETI表型出現在晚期端粒失活(LTI)導致的羣體衰老之前，並且ETI導致的衰老在形態學上與LTI衰老不同，在基因上也與端粒長度具有非偶聯現象。
同時，增加細胞內的dNTP能夠改變衰老表型的出現。研究人員利用基因和單細胞分析表明，在母細胞端粒縮短之前，端粒酶對於持續應答短暫的DNA複製應激具有非常重要的作用，端粒酶缺失會加速細胞的衰老過程。
綜上所述，該項研究發現了端粒酶與酵母細胞衰老的新關係，通過實驗證明了端粒酶早期失活是如何導致酵母細胞的加速衰老過程。這項研究或可對研究人類衰老過程提供重要借鑑意義。
